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EMI近場探頭

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EMI近場探頭是主要用于查找干擾源,判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度;檢測磁場耦合的通道,從而調整連接器位置;檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾,尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的,通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能

產品性能:

EMI近場探頭(DC-9G)適合任何頻譜分析儀、示波器或EMI測試接收機,頻率范圍超寬,滿足您現在以及未來的測量需求。

(DC-9G)包括4個磁場探頭和1個電場探頭,所有探頭均覆蓋絕緣層。配備手握式三角架,固定探頭組,以消除抖動帶來的影響。

產品特點:

覆蓋有絕緣層的安全措施;

非常方便的設計包括涂橡膠握把;

非常小的尺寸,完善精確的干擾源定位;

可以由一個信號源驅動產生的電磁敏感性測試領域;

技術指標:

頻率范圍:DC 1Hz-9GHz

接口:SMA(SMB)

探頭:    

     PBS-H4  1 x 50mm   頻率范圍:700MHz

     PBS-H3  1 x 25mm   頻率范圍:500MHz

     PBS-H2  1 x 12mm   頻率范圍:2.6GHz

     PBS-H1  1 x 6mm    頻率范圍:6GHz

     PBS-E1  1 x stub   頻率范圍:9GHz

訂貨信息:

     PBS1  近場探頭

     標準配置:SMA連接線、手握式三腳架、包裝箱、CD盤

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